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RhizoTron ®根系高光譜成像技術(shù)應(yīng)用:根腐病評(píng)估
發(fā)布時(shí)間: 2024-01-10 點(diǎn)擊次數(shù): 704次根腐病又稱“植物癌癥",該病發(fā)生范圍廣、極易傳染,是毀滅性的土傳病害之一。該病具有隱蔽性,當(dāng)?shù)厣喜勘憩F(xiàn)出明顯癥狀時(shí),地下根系早已死亡過半。因此,培育抗病品種是防治該病的關(guān)鍵策略之一,而早期檢測(cè)及客觀評(píng)估疾病嚴(yán)重性是抗病品種培育中的一項(xiàng)重要步驟。
根系研究的關(guān)鍵在于對(duì)植物“隱藏的一半"進(jìn)行可視化和量化,基于高光譜成像的根箱栽培法在抗性篩選及遺傳育種等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用和出色的表現(xiàn),北京易科泰生態(tài)技術(shù)公司推出了RhizoTron®植物根系高光譜成像系統(tǒng),為根腐病評(píng)估提供非接觸、非損傷、數(shù)字化、可視化解決方案。
小麥根腐病識(shí)別
Gernot et.al基于根箱培養(yǎng)技術(shù)對(duì)小麥進(jìn)行培養(yǎng),并對(duì)植株進(jìn)行扦插處理,基于根系高光譜成像技術(shù),在扦插后第14、28、47、94、101和201天分別對(duì)根箱的上三分之一進(jìn)行高光譜成像(900-1700nm)。基于一階導(dǎo)數(shù)差分光譜(1649-1447nm)構(gòu)建根系腐爛時(shí)間指數(shù)模型,使用修剪后28天和101天的光譜數(shù)據(jù)作為驗(yàn)證集,其R2=0.96。
不同基因型扁豆的霉菌根腐病評(píng)估
Afef et.al以不同基因型扁豆為實(shí)驗(yàn)對(duì)象,設(shè)置對(duì)照組和實(shí)驗(yàn)組,培養(yǎng)14日后實(shí)驗(yàn)組接種黃芽孢桿菌,對(duì)照組施以清水。接種14日后使用0-5疾病評(píng)分量表對(duì)根系進(jìn)行評(píng)分,作為地面參考數(shù)據(jù)[11]。采用高光譜成像技術(shù)對(duì)植株地上和地下部分進(jìn)行成像分析,通過研究高通量表型技術(shù)評(píng)估霉菌根腐病的嚴(yán)重程度,以快速鑒別耐藥基因型。
通過提取感興趣區(qū)的光譜,發(fā)現(xiàn)從地上樣品的高光譜反射曲線來看,健康和感染的樣品光譜反射曲線相差較小,而根系的光譜曲線差異較顯著。使用歸一化差異光譜指數(shù)(NDSI)對(duì)根系疾病程度進(jìn)行預(yù)測(cè),其R2達(dá)到0.54,使用地上部光譜特征進(jìn)行預(yù)測(cè),其R2僅為0.27。結(jié)果表明,相比較于地上部,根系高光譜成像技術(shù)能夠更好的評(píng)估根腐病。
參考文獻(xiàn)
[1] Gernot B , Mouhannad A , Alireza N , et al. RGB and Spectral Root Imaging for Plant Phenotyping and Physiological Research: Experimental Setupand Imaging Protocols. [J]. Journal of visualized experiments : JoVE, 2017, (126).
[2] Advanced Imaging for Quantitative Evaluation of Aphanomyces Root Rot Resistance in Lentil[J]. Frontiers in Plant Science,2019,10.